本文標題:"多晶試樣中,總是有某些表面晶粒計量分析顯微鏡"
發布者:yiyi ------ 分類: 行業動態 ------
人瀏覽過-----時間:2015-2-10 10:43:13
多晶試樣中,總是有某些表面晶粒計量分析顯微鏡
在多晶試樣中,總是有某些表面晶粒,共有效滑移面相對于
最大分循環剪應力的位向是有利的,單晶體與多晶體不同,其表
而條痕的外貌取決于最大分剪應力和有效滑移面的相對位向。曾
指出,當方截面單晶體承受循環扭轉載荷時,如果晶體的有效滑移
向量平行于一個面,由于剪應力在試樣每個而的中點達到最大,
而在角上減小到零,因此晶體上沒有由越出表面的剪應力分量產
生滑移運動的地位,故因滑移越出表面而造成的表面開裂所起的
影響最小
雖然許多延性純金屬和簡單合金在室溫下和接近長期疲勞強
度的應力級下作試驗時,會出現滑移帶開裂,但是金相檢驗表
明,其他金屬會出現晶界開裂,而實際上在較低應力級下出現滑
移帶開裂的那些金屬,在經過短耐久期后引起斷裂的應力級或應
變幅下就會出現晶界開裂。表面變形的劇烈變化造成晶界開裂,
估計可能是山于晶界不能適應鄰近晶粒中發生的大循環
變形,因而在晶界上產生了嚴重的應變梯度,這樣就產生了引起
表而裂隙的附加剪切作用
后一篇文章:鍛鋼硬金屬試樣截面分析金相圖像顯微鏡 »
前一篇文章:« 金屬表面晶粒粗糙度測量工具便攜顯微鏡
tags:材料學,金相顯微鏡,上海精密儀器,
多晶試樣中,總是有某些表面晶粒計量分析顯微鏡,金相顯微鏡現貨供應
本頁地址:/gxnews/2248.html轉載注明
本站地址:/
http://www.xianweijing.org/