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本文標題："普通光學顯微鏡下觀察礦物中微量碎片特征"

發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動態(tài) ------ 人瀏覽過-----時間：2014-4-11 17:15:1

普通光學顯微鏡下觀察礦物中微量碎片特征

砂樣品的包裹體兩片光薄片的制備

方法基本同上，只是省去切割工序。用環(huán)氧樹脂將其粘在24X24X2
毫米的玻璃片上烘烤，膠硬化后即可磨樣、拋光。其余工序同其他兩
面光片。

光薄片用于研究巖石礦物中微量鈾裂變碎片對周圍介質產生強烈
輻射損傷的軌跡（徑跡）。由于徑跡很細小，需要經化學蝕刻才能在
普通光學顯微鏡下觀察，因此對這種光薄片的要求也與普通的光薄片
不同。

③厚度要適當。透明度好的礦物磨薄至0.06-0.08 毫米；透明度
較差的礦物，光薄片的厚度為0.04-0.05 毫米。

薄片太厚，透明度不好，會影響鏡下觀察；薄片過薄，在進行酸
堿腐蝕時易損壞薄片。

②拋光質量要特別好，光潔度極高并無條痕和麻點。否則蝕刻后
會出現假蝕刻坑，與徑跡混淆而影響觀察。

③粘結膠既要粘結牢固、透明度好，又能耐強酸強堿的腐蝕。

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