本文標題:"土壤礦物微量分析測量用專業偏光顯微鏡制造廠商"
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土壤礦物微量分析測量用專業偏光顯微鏡制造廠商
激光光譜儀(laser spectrometer)連帶偏光顯微鏡不能用于掃描。但是,樣本的分析表
面雖僅稍大于微探針分析的表面,然而精密度較大。
微量化學分析可用于土壤薄片。這是借加入特殊試劑,靠用目力比色鑒定的方法。這種
技術的潛在作用還待探索。
根據光學性質和結晶學特征,運用普通偏光顯微鏡可進行礦物微量分析;但是,只有在
礦物的大小超過土壤薄片的厚度時才有可能。因為土壤粘粒礦物過小,如用偏光顯微鏡是很
少能鑒定的。
然而,有其它技術可用以鑒定土壤礦物。例如,應用相差顯微鏡(或干涉相,interfere-
nce phase)觀察,透射電鏡(TEM)觀察小樣本的懸液等。這些方法可鑒定粘粒礦物的主要
類型,但是認識它們在上壤中的轉變還有困難。
用X一射線衍射法進行微量分析還不可能很清楚。另一種方法是從旋轉陽極而放射出的
X一射線來對準焦點;并在反射鏡(mirror)中,用偏光顯微鏡觀察所測的分析點位。這種方
法仍在研究中。
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