本文標題:"電子顯微鏡另一個重要特點上放大倍率變化范圍較寬"
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電子顯微鏡另一個重要特點上放大倍率變化范圍較寬
掃描電子顯微鏡另一個重要特點上放大倍率變化范圍較寬,因
而有可能宏觀斷口分析和顯微鏡斷口分析結合起來。點在研究服役
過程中的斷裂事故時特別有用。
盡管透射電子顯微鏡的放大位數(shù)高些,但掃描電子顯微鏡能用
來研究粗糙的斷口,這是透射電子顯微鏡做不到和,
掃描電子顯微鏡還適于觀察非常小的斷口(如線材的斷口),
而在確定主斷裂和次斷裂源以及匹配斷口的對應區(qū)時,掃描電子顯
微鏡也能用來觀察大尺寸的斷口。
這里有必要對掃描電子顯微鏡試樣制備的一皯問題作簡要敘述
:試樣可能是在實驗室內確定的條件下斷裂;也可能是在服役現(xiàn)場
斷裂的,這兩種情況下得到的斷口表面狀況是不一樣的。在前一種
情況里,
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