本文標題："熱加工金相分析微觀晶粒尺寸的應用常識"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動態(tài) ------
人瀏覽過-----時間：2015-5-6 15:39:30
熱加工金相分析微觀晶粒尺寸的應用常識
正常晶粉長大之前的異常晶粒長大
盡管通常異常晶牧長大是在正常晶粒長大過程受阻的情況下
發(fā)生的，即異常晶粒長大發(fā)生于正常晶粒長大之后。但根據一些理
論研究結果。如果初次再結晶之后的晶粒尺寸分布超出了正
常晶粒長大所允許的尺寸分布范圍，則組織中一些大晶粒將獲得
明顯高于其他晶粒的長大驅動力而以“異常”的高速度不斷擴張，
直到其余較小的晶粒全部消失，而使晶粒尺寸重新分布于一個正
常的、較窄的尺寸范圍內。這個過程被稱為發(fā)生于正常晶粒長大之
前的異常晶粒長大。此后，如果下述條件得以滿足，則將恢復正常
的晶粒長大:首先，在較小晶粒消失后，晶粒尺寸的分布范圍必
須足夠窄小，以滿足正常晶粒長大所需的晶粒尺寸分布范圍。其
次，此時晶粒組織內不存在諸如表面、第二相粒子以及織構等阻
礙正常晶粒長大的因素。
有關正常晶粒長大之前的異常晶粒長大至今尚無直接實驗證
實，其原因也許是因為這一過程過于短暫。但另一方面，對晶粒
長大過程的計算機隨機模擬和理論分析卻得出了相反的結論:
在不考慮表而、第二相粒子以及織構等因素的情況下，明顯超出
正常分布尺寸范圍的特大晶粒的相對長大速度并不比其他晶粒
快.相反在遠離特大晶粒處的一些晶粒的尺寸反而越來越接近于
特大晶粒，最終恢復正常的晶粒尺寸分布狀態(tài)，其間并沒有發(fā)生
異常晶粒長大。這一論點似乎違背有關晶粒長大過程中大晶粒長
大小晶粒縮小的一般認識，但完全否定它至少在目前也還缺乏足
夠的依據。
后一篇文章：用生物來分析水質-浮游動物特征分析顯微鏡 »
前一篇文章：« 電阻測量應在比測量較低純度樣品更低溫度下進行
tags:技術,技能,實驗,金相顯微鏡,上海精密儀器,
熱加工金相分析微觀晶粒尺寸的應用常識,金相顯微鏡現貨供應
本頁地址：/gxnews/2491.html轉載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/