本文標題:"電子和光學顯微學觀察樣品的象中得到襯度的變化"
發布者:yiyi ------ 分類: 行業動態 ------
人瀏覽過-----時間:2015-8-7 16:12:50
電子和光學顯微學觀察樣品的象中得到襯度的變化
在電子和光學顯微學中,在精確聚焦下襯度不足的原因是相
同的一一這些薄樣品(‘相位物體’)僅影響透過樣品的波的相位,
而不影響它的振幅。這樣,其作用象一種折射率可變的介質
如果我們想要‘看見’例如在電鏡中的原子,就必須把這
只有使用相干照明和一個有‘缺陷’顯微鏡時,我們才有希望
從一個只有折射率變化的樣品的象中得到襯度的變化。在薄樣品
的高分辨電子顯微學中精確控制照明的相千性(illumination
coherence)和離焦量(defect of foous),乃是成功之關鍵。隨照
明相干性的改進,高分辨率顯微象中精細的細節量會有顯著的增加,
而在聚焦設置不當情況下拍攝照片,也可能會觀察到完全謬誤的
細節。
為了說明在高分辨率時,相干性對成象質量的影響
出了在其它條件相同,而照明相干性大為不同的各種條件下無定
形碳膜的象。在‘非相干’圖象中精細細節的丟失是明顯的。實際
上,在裝有常規的發叉形燈絲的電鏡中,照明相干性是由第二聚光
鏡光闌尺寸所決定的,這是一個產生高相干性的小孔徑。對足夠
小的電子源(如場發射、點狀陰極或LaBo源)照明可能是完全相
干的,而與第二聚光鏡(照明)孔徑的選擇無關。對這些電子源來
說,兩個聚光鏡縮小比率的設置對決定樣品處相干性程度也是重
需要著重強調的主要變化在于:在常規成象時,我們涉及的是厚樣
品,可能是染色樣品,用一個小的物鏡孔徑和大的聚光鏡光闌來成
象,聚焦不存在特殊問題。而在高分辨率相位襯度成象時,涉及的
是盡可能薄的(不染色的)樣品,用一個最佳尺度的較大物鏡光闌和
一個小的照明光闌。聚焦的選擇變得很苛刻,或者以計算所得的象
憑經驗加以指導,或者以樣品所要結構的鄰近有已知結構小區域的
出現憑經驗加以指導。對大多數不小于0.85nm分辨率所成象的大
單胞晶體來說,為了能給出一個容易解釋而不包括虛假細節的象,
當顯微鏡的球差系數為1—2mm吼聚焦應選擇在欠焦(減弱透鏡)60--
90nm的范圍內。為了設置這樣的聚焦條件,必須校準聚焦控制鈕。
在8。土節中給出了測量焦距級差(thefoousinorements)的各種方
法。
高分辨率工作對儀器的要求和變動
電子顯微鏡的主要制造廠家所提供的儀器性能都是十分接近的
。所有儀器都能給出點分辨率優于0.35nm的明場象。現在傾向于
在高分辨率工作中用旁插式同心傾角臺,這種樣品臺生物工作者已
用了多年,而對于高分辨率的工作,這種臺會使對小晶體的定向大
為方便,因為使用這種樣品臺,隨樣品傾斜產生的橫向位移將會最
小。但對需長時間曝光的暗場工作時,這類樣品臺的性能還有待于
評價。 因為過去使用這類樣品臺時,由于熱效應而引起的漂移速
率比頂插式的樣品臺要大得多。
實驗室如果現在已經購置了透射顯微鏡,并想用它開展高分辨
率研究工作,則應考慮以下各點。
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電子和光學顯微學觀察樣品的象中得到襯度的變化,金相顯微鏡現貨供應
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