本文標(biāo)題："上海光學(xué)儀器一廠研發(fā)設(shè)計出全新之測量儀器"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 技術(shù)文章 ------
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上海光學(xué)儀器一廠研發(fā)設(shè)計出全新之測量儀器 -- 光學(xué)影像測量儀、干涉顯微鏡塊規(guī)比測儀及外徑尺寸比測儀。
一二維光學(xué)量測設(shè)備上，上海光學(xué)儀器一廠產(chǎn)品維持我國很高的之市場占有率。
在測長儀方面，設(shè)計以花崗巖為基材，可依客戶所需之長度而精心裁制。
在應(yīng)用方面不僅可量測塊規(guī)、環(huán)規(guī)、塞規(guī)、卡規(guī)、分厘卡、螺紋規(guī)，更可進一步檢測其它廠牌無法達到的檢驗。如內(nèi)外螺紋之牙距及錐度之檢驗，且量測精度更是首屈一指(提供工件、花崗巖及光學(xué)尺之溫度即時補償)，教導(dǎo)式軟體更是使操作者一目了然。
在比測儀方面，提供ABBE 250外徑比測儀。采用自動上下式探針進行量測，減少人為誤差。EMP系列之塊規(guī)比測儀更是將光學(xué)尺之長距離檢測優(yōu)勢應(yīng)用于此。在進行塊規(guī)比對式量測時，不需一對一同尺寸的檢測，如于100 mm之量測范圍，僅需提供10片以下之標(biāo)準(zhǔn)片，便可進行量測。在整個量測過程中，大大的提高時間效率及降低塊規(guī)成本之預(yù)算，對整體之效益，提供莫大之幫助。
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上海光學(xué)儀器一廠研發(fā)設(shè)計出全新之測量儀器,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)
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