本文標題:" 材料高倍數放大觀察金相顯微鏡制造廠家"
發布者:yiyi ------ 分類: 行業動態 ------
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此種最廣為應用和為一般所接受之粗糙度度量法,可提供與現行標準相符合之數值。
再工業中之廣為應用系由于現有儀器設備之種類和伸縮性所達成。
能夠紀錄之表面輪廓描繪法具有放大器配合于表面組織分析之輪廓描繪儀器為需要較提供單一平均值更為細微之表面檢驗,
紀錄之輪廓描繪常有需要。此種描繪系以能夠提供高靈敏度之儀器所制,在特殊之情形,并應用電子濾波器以消除主要輪廓差異效應
為一般表面組織定值,在區別粗糙高度度量之有限范圍,以高倍數放大觀察常為極具資料性之方法。
自兩個不同顏色之相對光源之斜光線或投射光線,可促進其地形圖。具有分離卡滑板之交叉系標線片,許可為零件作標準尺。
光線分段法光線分段顯微鏡表面之粗糙度使探針度量發生困難或不切實際時,可以應用傾斜之薄光帶作非破壞性之分段檢驗,
并以顯微鏡觀察其照明輪廓線。由于此系非接觸法,故亦適用于軟材料。
干涉儀度量法反射光線干涉顯微鏡在高放大倍數(如100倍至400倍)之小表面面積之光線反射中產生若干個干涉帶
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