本文標題："細小的金屬單晶纖維需要電子掃描式顯微鏡才能看見"
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錯位是一種晶體之線性瑕疵，也就是眾原子之排列發(fā)生了錯亂。這種錯亂，
使得晶體局部產(chǎn)生扭曲，因而能夠改變那透過金屬薄片之電子束（Electron Beam）
之進行方向。所以我們可藉透視電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope）
來觀察呈黑絲狀的錯位。最常見的一種錯位是晶體內(nèi)半個平面之原子“失蹤”。
這種錯位易于敘述和解釋。而這些錯位之易于移動，使得實際上之晶體變得很“軟弱”──
即在很小的應(yīng)力之作用下，便承不住而變形。
這種情形可舉一日常所見之慣例來解說之，如果地毯鋪得相當?shù)钠剑?/div>
則我們要費很大的力量才拉得動整個地毯。就如需要極大的應(yīng)力才能使沒有瑕疵的晶體變形
一樣。假使地毯上有道隆起之脊背，當我們拉動此地毯時，該脊背能順沿著地毯而移動。
實際上，我們是在間接地將該脊背移動。自然我們所用之力較拉全平之地毯小得多。
同樣的道理，很小的應(yīng)力便能將晶體內(nèi)之錯位移動而使之變形。
同時也說明了為何那幾乎無瑕疵的晶體其強度幾能達理論值（例如細小的金屬單晶纖維）
由上所述，我們可得到一個結(jié)論，金屬強化的方法，便是要防止錯位之存在或是阻撓已存在
著的錯位之移動。值得注意的是，金屬之延性（Ductility）也是由于錯位之移動來決定
。其與強度所不同的是趨勢相反──錯位愈容易移動，
則延性愈高。所以我們常須在強度與延性間作個妥協(xié)，以求得最適用之材料。
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細小的金屬單晶纖維需要電子掃描式顯微鏡才能看見,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)
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